Tönisvorst, 6. November 2025 – NOFFZ Technologies kündigt in Zusammenarbeit mit National Instruments (Now Emerson) die Markteinführung der Fast Load Transient e-Load Solution an – einer fortschrittlichen Plattform, die speziell für die Validierung von Power Management ICs (PMICs) im Zeitalter von KI-Computing, Rechenzentren und Hochleistungs-Elektronik entwickelt wurde. Mit ultraschneller Stromdynamik und präziser Rückkopplungsregelung ermöglicht das System Ingenieur:innen, realistische, dynamische Lastwechsel zu reproduzieren und die nächste Generation von Leistungsbausteinen mit höchster Genauigkeit und Geschwindigkeit zu validieren.
Die Test-Herausforderung im KI-Zeitalter
Die zunehmenden Leistungsanforderungen von KI-Beschleunigern, GPUs und Rechenzentrums-Systemen stellen neue Herausforderungen an die PMIC-Validierung. Diese Bausteine müssen schnelle, großskalige Laständerungen verarbeiten und dabei Stabilität und Effizienz gewährleisten. Klassische Testaufbauten und Standardmessgeräte sind oft nicht in der Lage, das dynamische Lastverhalten und den Betrieb bei niedrigen Spannungen (<0,2 V) realitätsnah nachzubilden. Die NOFFZ Fast Load Transient e-Load Lösung schließt diese Lücke – mit einer modularen, breitbandigen elektronischen Lastplattform, die speziell für die Validierung von PMICs unter realen Transientenbedingungen konzipiert wurde.
Zentrale Leistungsmerkmale
Die Fast Load Transient e-Load Lösung von NOFFZ und National Instruments kombiniert Geschwindigkeit, Präzision und Robustheit, maßgeschneidert für die Validierung moderner PMICs. Die hochbandbreitige Stromregelung ermöglicht die präzise Reproduktion realer Transienten mit Slew-Raten bis zu 150 A pro Mikrosekunde. Die Pulsdauer ist programmierbar von 100 Nanosekunden bis 100 Millisekunden bei einer Auflösung von 35 Nanosekunden – ideal, um dynamische Lastverläufe unter unterschiedlichsten Bedingungen realitätsgetreu zu simulieren. Für eine stabile und exakte Regelung nutzt das System breitbandige Rogowski-Strommessung (20 MHz) in Kombination mit FPGA-basierter Steuerung. Diese Architektur ermöglicht eine äußerst schnelle Rückkopplung und präzise Strommessung – selbst bei extrem schnellen Transienten. Die Lösung lässt sich nahtlos in bestehende Validierungsumgebungen integrieren und arbeitet direkt mit NI PXI-Instrumenten zusammen. Über LabVIEW-, Python- und InstrumentStudio-APIs können Tests flexibel automatisiert werden. Ein hocheffizientes Zero-Voltage-Switching-Design mit über 95 % Wirkungsgrad -unterstützt durch planare Magnetkerne und integrierte Schutzmechanismen – sorgt für sicheren Dauerbetrieb auch unter hoher thermischer und elektrischer Belastung. Ein niederinduktiver Samtec-SOLC-Steckverbinder minimiert parasitäre Effekte und garantiert eine stabile, verlustarme Verbindung zum Prüfling (DUT) – für präzise und reproduzierbare Testergebniss
Systemarchitektur
Im Kern der NOFFZ Fast Load Transient e-Load Lösung steht eine skalierbare, modulare Systemarchitektur, die maximale Flexibilität für die PMIC-Validierung unter dynamischen Lastbedingungen bietet.
Zentrale Komponente ist eine Motherboard-Platine mit integriertem FPGA, Ethernet-Schnittstelle und spezieller Steuerlogik für dynamische Lastprofile, Messwerterfassung in Echtzeit und nahtlose Kommunikation mit dem Gesamtsystem. Ergänzt wird diese durch modulare „Coupon“-Leistungsstufen, die je nach Anforderung des Prüflings (DUT) konfiguriert werden können. Diese modulare Bauweise ermöglicht eine skalierbare Strombelastbarkeit und eine effiziente Nutzung der Hardware über verschiedene Leistungsbereiche hinweg. NI PXI-Module komplettieren das System, indem sie die Versorgung des DUT, zusätzliche Schnittstellen und Monitoring-I/Os sowie eine synchronisierte Kommunikation mit der e-Load-Hauptplatine bereitstellen. Das Ergebnis ist eine vollständig softwaregesteuerte Validierungsumgebung, die komplexe Transientenbedingungen präzise und kontrolliert abbilden kann.
Testsystemintegration
Um die Inbetriebnahme zu beschleunigen und den Betrieb zu vereinfachen, enthält die Lösung ein umfassendes Software-Integrationspaket. Ingenieure können sowohl LabVIEW- als auch Python-APIs für die direkte Steuerung und Automatisierung der elektronischen Last nutzen sowie vorkonfigurierte NI InstrumentStudio-Plug-ins für sofortige Testausführung ohne zusätzlichen Programmieraufwand.
Die Lösung bietet eine sofort einsatzbereite Konfiguration, die speziell auf typische Fast-Load-Transient-Tests abgestimmt ist. Sie umfasst die komplette e-Load-Hardwareeinheit, Integrations-APIs sowie detaillierte Richtlinien zur Entwicklung der DUT-Platine (Device Under Test) und ermöglicht so eine schnelle Implementierung in Labor- oder PXI-basierten Validierungsumgebungen.
Diese Kombination aus modularer Hardware und offener, automatisierungsbereiter Software macht die NOFFZ Fast Load Transient e-Load Lösung zur idealen Wahl für präzise und effiziente PMIC-Validierung – von der klassischen Labor-Charakterisierung bis hin zu vollautomatisierten Testumgebungen.
Für komplexere Validierungsaufgaben bietet NOFFZ zudem eine kundenspezifische Lösung an, die an individuelle Gerätearchitekturen und Projektanforderungen angepasst werden kann. Diese Variante ermöglicht maßgeschneiderte Hardware- und Firmware-Modifikationen, einschließlich erweiterter Strombereiche, spezialisierter mechanischer Schnittstellen und Unterstützung für besondere DUT-Anforderungen. Sie eignet sich insbesondere für Kunden, die proprietäre PMIC-Designs entwickeln oder eine nahtlose Integration in bestehende, spezialisierte Testsysteme benötigen.
Als Ergänzung hierzu können unsere erfahrenen Validierungsingenieure Sie mit Engineering-Dienstleistungen unterstützen – darunter Testprogramm-Entwicklung, Systemoptimierung sowie Unterstützung bei der Integration vor Ort oder aus der Ferne. So stellen wir eine reibungslose Inbetriebnahme und maximale Systemleistung in unterschiedlichsten Anwendungen sicher.
Produktdemonstrationen sind auf Anfrage verfügbar und bieten die Möglichkeit, die Leistungsfähigkeit der Lösung live zu erleben. Eine Live-Demonstration der Fast Load Transient e-Load Solution wird auf der productronica 2025 in München am NI-Stand A1/332 gezeigt.
Die ersten Produktionsmuster werden ab Q1 2026 bestellbar sein.
Über NOFFZ Technologies GmbH
NOFFZ Technologies entwickelt und produziert branchenführende Testsysteme und Automatisierungslösungen für den gesamten Produktentwicklungsprozess, von der Prototypenerstellung und Validierung bis hin zur Serienproduktion.
Das 1989 gegründete Unternehmen beschäftigt derzeit mehr als 250 Mitarbeiter an neun Standorten weltweit und bedient Hersteller in den Branchen Transportation, Telekommunikation, Industrieelektronik, Smart Home, Medizintechnik und Halbleiterindustrie.
Im Laufe der Jahre hat NOFFZ interne modulare Testsysteme und Lösungen auf Basis der Universal Tester Platform (UTP) entwickelt, die Flexibilität und Standardisierung in Einklang bringen. Mit langfristigem Support und umfangreichem RF-Wissen ist NOFFZ einer der führenden Systemintegratoren für komplexe RF- und Wireless-Anwendungen in Kombination mit Mixed-Signal-Tests – von Parameter- und Überwachungstester in der Validierungsabteilung bis hin zu Flashern, Board-Level- und End-of-Line-Tester in der Produktion.
Kontakt:
NOFFZ Technologies GmbH
Darleen Hagedorn, Marketing
Tel.: +49-2151-99878-53
E-Mail: darleen.hagedorn@noffz.com
Handelsregister: Amtsgericht, Krefeld HRB: 9473 / Ust.-ID-Nr.: DE 812096166
Geschäftsführer: Tobias Noffz, Dipl.-Ing. Markus Solbach