Halbleiter
KOMPLEXE TESTS
Testlösungen für die Halbleiterindustrie
Post-Silicon-Validierung und -Test ermöglichen
Unser Portfolio für Halbleitertests basiert auf drei Säulen
- Validierungs- und Test-Engineering-Services
- Design und Entwicklung von Testsystemen
- Anwendungsspezifische Produkte und Lösungen
Ob Sie komplexe Mixed-Signal-ICs und SoCs, spezifische IPs oder fortschrittliche Sensor- und RF-Module validieren – unsere Dienstleistungen und Lösungen helfen Ihnen, die Validierungszeit zu verkürzen, die Testabdeckung zu verbessern und eine langfristige Produktqualität sicherzustellen.
Mixed-Signal
Power Management
Speicher
HF-Bauelemente
WLR & Parametrik
Validierungs- und Test-Engineering-Services
Validierungs- und Testkampagnen im Halbleiterbereich sind häufig durch knappe Zeit, begrenzte Engineering-Ressourcen und zunehmende Systemkomplexität eingeschränkt. Die Rekrutierung und Einarbeitung von Ingenieuren mit tiefem Fachwissen und praktischer Laborerfahrung kann zeitaufwendig sein – insbesondere in kritischen Projektphasen.
NOFFZ Technologies bietet Validierungs- und Test-Engineering-Services, die Ihre Teams nahtlos um erfahrene Halbleiter-Testingenieure ergänzen. Unsere Ingenieure integrieren sich effizient in Ihre Arbeitsabläufe, Tools und Prozesse, um die Ausführung zu beschleunigen – und bewahren Ihnen dabei volle Transparenz und die technische Hoheit auf Ihrer Seite.
Wir führen nicht nur Tests durch – wir helfen dabei zu definieren, was getestet werden soll, wie es getestet wird und wie die Ergebnisse zu interpretieren sind. Durch die enge Zusammenarbeit mit Design- und Projektteams reduzieren wir Iterationszyklen, verbessern die Ergebnisqualität und ermöglichen fundierte technische Entscheidungen über den gesamten Validierungsprozess hinweg.
Unsere Leistungen
Entwicklung von Teststrategie & Testplan
- Definition strukturierter Validierungs- und Testpläne, abgestimmt auf die Bauteilarchitektur, die Betriebsbedingungen und die wichtigsten Leistungsziele.
Entwicklung kundenspezifischer Test-Hardware
- Design und Entwicklung von Loadboards, Interface-Boards und kundenspezifischen Anschlusslösungen für einen zuverlässigen DUT-Zugang und präzise Messungen.
Testprogramm-Entwicklung, -Ausführung & DUT-Debugging
- Entwicklung und Ausführung automatisierter Testprogramme, einschließlich Datenanalyse und Ursachenanalyse zur Beschleunigung der Fehlerbehebung.
Reporting & Design-Feedback
- Erstellung strukturierter Testberichte und Datenzusammenfassungen, die Design- und Projektteams klares, umsetzbares Feedback liefern.
Unser Mehrwert
Engineering-getriebene Partnerschaft
- Unsere Ingenieure kombinieren fundierte Expertise in Halbleiter-Testplattformen (NI PXI, NI STS, V93K) und Softwareumgebungen (C#, LabVIEW, Python, C++)
Flexible Einsatzmodelle
- Wir unterstützen Kunden weltweit durch eine Kombination aus Zusammenarbeit vor Ort und Remote-Ausführung und ermöglichen so einen schnellen Projektstart sowie skalierbaren Projektsupport.
Hoher Mehrwert bei wettbewerbsfähigen Kosten
- Unser Liefermodell ermöglicht es uns, hochwertige Engineering-Dienstleistungen zu wettbewerbsfähigen Kosten anzubieten, sodass Kunden ihre Projektbudgets optimieren können, ohne Abstriche bei technischer Tiefe oder Ausführungsqualität zu machen.
Design und Entwicklung von Testsystemen
Halbleiter-Testsysteme müssen auf die spezifischen Anforderungen des Bauteils, die Teststrategie und die jeweilige Phase des Produktlebenszyklus zugeschnitten sein.
NOFFZ Technologies verfügt über umfangreiche Erfahrung in der Architektur, dem Design und der Entwicklung von Halbleiter-Testsystemen für Validierung und Produktionstest. Wir entwickeln vollständige Testlösungen, die Testinstrumentierung, Schnittstellen, Software und Automatisierung integrieren – abgestimmt auf die Bauteileigenschaften und die Projektziele.
- Validierungs-Testsysteme – optimiert für Messgenauigkeit, Flexibilität und sich entwickelnde Testanforderungen, um über den gesamten Entwicklungszyklus tiefe Einblicke in das Bauteilverhalten zu ermöglichen.
- Produktions-Testsysteme – konzipiert für die Halbleiterfertigung in hohen Stückzahlen, mit starkem Fokus auf Robustheit, Durchsatz und Testkosten. Je nach Projektanforderung können Produktionslösungen vollständig kundenspezifisch entwickelte Testsysteme oder Systeme auf Basis der NI-STS-Plattform sein, die deren Skalierbarkeit und produktionserprobte Architektur nutzen.
NOFFZ UTP 7033
NOFFZ UTP 9065
NI-STS-Plattform
Applikationsspezifische Produkte und Lösungen
FLT 150A
FLT 150A
PMIC Fast Load Transient
Schnelle Lasttransienten zählen zu den kritischsten Belastungsbedingungen für moderne Power-Management-ICs und Spannungsregler. Schnelle Stromsprünge können Stabilitätsprobleme, Schwächen im Regelkreis und Grenzen des Transientenverhaltens aufdecken, die in statischen oder langsamen dynamischen Tests nicht sichtbar sind.
Unser FLT-150A ist ein dediziertes Testinstrument, das hohe Stromstärken und Lasttransienten mit hoher Anstiegsrate bei deterministischem und reproduzierbarem Verhalten erzeugt. Es liefert programmierbare dynamische Stromprofile mit Anstiegsraten von bis zu 150 A/µs und ermöglicht so die präzise Nachbildung schneller Lastsprünge, Pulsfolgen und komplexer Transientensequenzen. Seine FPGA-basierte Steuerungsarchitektur gewährleistet eine Timing-Determiniertheit im Nanosekundenbereich, sodass Ingenieure Lastereignisse exakt mit der Spannungsantwort und der Messinstrumentierung korrelieren können.
Hauptmerkmale:
- Breitbandige Stromregelung mit realitätsnaher Transientennachbildung bis zu 150 A/µs und 200 ns Pulszeitauflösung
- Präzise, zeitlich synchronisierte Messungen mit einer 20-MHz-Rogowski-Spule, einem Präzisions-Hall-Sensor und einer Spannungs- und Stromerfassung mit 50 MS/s
- Flexible Synchronisierung und Triggerung mit externem Laststart und Trigger-Ausgängen, um weitere Instrumente exakt auf das Transientenereignis abzustimmen
- Nahtlose Systemintegration über LabVIEW- und Python-APIs sowie ein NI Measurement Plug-In mit einsatzbereiten Transiententests
- Sicherer, zuverlässiger Betrieb durch integrierte Schutzfunktionen und ein Hochleistungsdesign mit kontrolliertem thermischem Verhalten und robusten planaren Magnetkomponenten
Typische Anwendungsfälle:
- Validierung des Transientenverhaltens von PMICs und DC/DC-Wandlern
- Stabilitätsanalyse bei schnellen Laständerungen
- Vergleich der Regelkreisleistung über verschiedene Silizium-Revisionen hinweg
- Korrelation von Labormessungen mit dem Verhalten auf Systemebene
PMIC Validierungssystem
PMIC
PMIC Validierungssystem
Die Validierung von Power-Management-ICs (PMICs) unter realen Bedingungen ist entscheidend für die Zuverlässigkeit des Gesamtsystems – der Aufbau einer kundenspezifischen Validierungsumgebung von Grund auf kann jedoch zeitaufwendig und ressourcenintensiv sein. Das NOFFZ + NI PMIC-Validierungssystem bietet eine sofort einsetzbare, modulare Lösung, die die Entwicklung beschleunigt und gleichzeitig eine nahtlose Skalierung für künftige Testanforderungen unterstützt.
Das System kombiniert PXI-basierte Hardware mit einem Open-Source-Software-Stack, der vorgefertigte Measurement-Plug-ins für gängige PMIC-Validierungsaufgaben wie Power-Sequencing, Line-/Load-Regulation, Effizienz und Lasttransienten enthält … Mit Unterstützung für mehrere IC-Varianten, individueller Anpassbarkeit und einfacher Automatisierung ist es darauf ausgelegt, die Einrichtungszeit zu reduzieren und Ihren Validierungszyklus zu beschleunigen.
Hauptmerkmale
Präzise Rail-Versorgung und -Messung mit 40-W-SMUs
- ideal für die Charakterisierung von Spannungsreglern und dynamischem Verhalten
Hochgeschwindigkeits-Leistungstests mit 300-W-Versorgungen und E-Loads mit 1,8-MS/s-Messung
- schnelle Lasttransienten erfassen und stabile Energieversorgung sicherstellen
Detaillierte Signaltransparenz mit 2- bis 8-Kanal-Oszilloskopen (bis zu 1,5 Gbit/s Bandbreite)
- Ripple, Rauschen und transiente Anomalien erkennen
Umfassende Protokollunterstützung, einschließlich I2C, I3C, SPI, SPMI
- mit dem NI Digital Pattern Instrument zur Verifizierung der Kommunikation unter realen
Eng synchronisierte Instrumentierung
- komplexe Testszenarien mit präziser zeitlicher Abstimmung ausführen
WLR Test Framework
WLR TEST FRAMEWORK
WLR Test Framework
Parametrische und Wafer-Level-Zuverlässigkeitstests stellen sehr spezifische Anforderungen an Instrumentierung und Software. Langzeit-Stresstests, eng synchronisierte IV- und CV-Messungen, komplexe Sequenzierung und strenge Anforderungen an die Reproduzierbarkeit über Wafer und Testbedingungen hinweg sind mit generischen Test-Frameworks nur schwer zu bewältigen.
Das NOFFZ WLR Test Framework wurde speziell für parametrische und Wafer-Level-Zuverlässigkeitstests entwickelt. Das Framework unterstützt den vollständigen parametrischen und WLR-Testablauf – von der detaillierten Testparametrierung und den Eingangssweeps über die Ausführung von Langzeit-Stresstests bis hin zur Ergebnisauswertung. Tests werden aus vorkonfigurierten, wiederverwendbaren Blöcken aufgebaut und zu Sequenzen organisiert, die auf Zuverlässigkeitskampagnen zugeschnitten sind. Integriertes Wafer-Mapping, Prober-Automatisierung und Temperaturregelung ermöglichen eine effiziente Ausführung über ausgewählte Dies, ganze Wafer oder komplette Lose hinweg.
Wesentliche Funktionen
Umfassende parametrische und WLR-Testabdeckung
- Das WLR Test Framework umfasst branchenübliche parametrische und Zuverlässigkeitstests wie IV, CV, TDDB, NBTI, CF, Current Collapse, RVS-Durchbruch und zugehörige Stressmessungen.
Unterstützung branchenüblicher Testplattformen
- Die Software läuft nativ auf NI PXIe, NI STS und Keysight B1500 und ermöglicht so konsistente parametrische und Zuverlässigkeitstests unabhängig von der zugrunde liegenden Hardware.
Sequenzierung optimiert für lange und komplexe Tests
- Dedizierte Test- und Sequenz-Editoren ermöglichen die präzise Steuerung von Stressprofilen, Timing und Messpunkten ohne eigene Programmierung.
Integrierte Prober- und Wafer-Level-Automatisierung
- Integrierte Wafer-Map-Verwaltung und Prober-Steuerung ermöglichen die automatisierte Ausführung über ausgewählte Dies, Wafer oder Lose hinweg und unterstützen zugleich die manuelle Steuerung für das Engineering-Debugging.
Einheitliche Umgebung für Test, Ausführung und Ergebnisse
- Eine zentrale Benutzeroberfläche für Testdefinition, Ausführungsüberwachung, Live-Ergebnisvisualisierung, Nachbearbeitung und Reporting.
Digital Audio Data Test Instrument
Digital Audio Data Test Instrument
Digital Audio Data Test Instrument
Moderne MEMS-Mikrofone und Audio-ICs sind auf digitale Audioprotokolle wie I²S, PDM und TDM angewiesen. Das Testen dieser Schnittstellen erfordert in der Regel mehrere Werkzeuge – einen FPGA-basierten Protokollgenerator und -analysator, ein Digital Pattern Instrument für kundenspezifische Signalgebung sowie einen I²C-Master zur Steuerung des DUT. Das NOFFZ Digital Audio Data Test Instrument vereint alle drei in einem einzigen PXIe-Modul und vereinfacht so den Testaufbau erheblich, während es Systemkosten und Komplexität reduziert.
Auf Basis von FPGA- und PXI-Technologien bietet das Instrument eine flexible und einheitliche Plattform zum Testen von Audioschnittstellen für eine Vielzahl von Anwendungsfällen. Sie können digitale Audioprotokolle erfassen und dekodieren, kundenspezifische Patterns für digitale Tests ausführen oder Ihren ADC durch das Erfassen und Filtern von Signalverläufen testen – alles mit einem einzigen Instrument.
Was diese Lösung effektiv macht
FPGA-basierte Signaldekodierung und -filterung
- ultraschnelle Testausführung und effiziente Datenverarbeitung
Ausführung digitaler Patterns (.digipat)
- Scan-Tests durchführen, Testmodi aktivieren, Signature-Pattern-Bursts ausgeben und mehr
Unterstützung gängiger Audio-Taktraten
- 1,536 MHz, 3,072 MHz, 6,144 MHz, 12,288 MHz, mit anpassbaren Optionen
Triggerunterstützung
- einfache Synchronisierung mit anderen PXI-Instrumenten in Ihrem Messaufbau
Hohe Parallelität
- 128 DIO-Leitungen pro PXIe-Slot, mit Unterstützung für bis zu 16 DUTs parallel
Flexible Softwareintegration
- C#- und LabVIEW-APIs zum Erstellen kundenspezifischer Sequenzen oder zur Nutzung des NI TestStand Semiconductor Module
Benötigen Sie zusätzliche Funktionen? Unser Team kann die Fähigkeiten des Instruments erweitern, indem es den FPGA-Code anpasst, um projektspezifische Funktionen, Protokolle oder Timing-Anforderungen zu unterstützen – maßgeschneidert für Ihre individuellen Validierungsanforderungen.
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